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賽可(SEC)X-RAY檢測設備SF160RT Series簡介:
●半導體,電子產品,封裝等產品精密分析用非破壞性檢測設備
●Detector X-tlt與Y-tilt Axis增加2.5D view的自由度
●Multi-layer PCB佳的檢測方案
●可安裝Oblique/Cone-beam CT
●賽可(SEC)X-RAY檢測設備SF160RT Series選配AXI S/W功能可進行量產檢測
1.賽可(SEC)X-RAY檢測設備SF160ER Series:
·精密分析及3D view佳的檢測設備
·半導體,電子產品,封裝等產品精密分析用非破壞性檢測設備
·可搭載Option自動檢測S/W,通過手動裝料后的自動檢測,可實現產品全檢
·通過Dual CT (Oblique CT, Cone-beam CT)方式的3D檢測,提供高分辨率
·高精度的分析檢測環境
2. 賽可(SEC)X-RAY檢測設備SF160F/N Series:
·精密分析及2.5D view佳檢測設備Detector rotation,簡便·快速獲取2.5D viev最大可實現900 x 900mm的Table size, 可檢測大型PCB和LED
·選配AXI S/W功能可進行量產檢測
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